RTCM算法在一维光子晶体缺陷模中的应用

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摘　　要:

利用RTCM算法研究一维光子晶体的缺陷模。研究了TE波和1M波入射时的情况，通过改变杂质层的光学厚度以及杂质层的折射率从而得出一些有重要指导意义的缺陷模特性。同时对有缺陷的一维光子晶体在窄带滤波器中的应用做了一定程度的探讨。结果表明：正入射时，TE波和1M波的透射率几乎相同，随着杂质层光学厚度的增加，透射峰数目增加，这有助于制作多道窄带滤波器。因此，有缺陷的一维光子晶体可以制作波分复用中的多道滤波器。 (共4页)