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电子产品退化失效的BS模型

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钟征 孙权 周经伦

国防科技大学系统工程研究所,湖南长沙410073

电子产品可靠性与环境试验
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国内统一刊号:CN 44-1412

摘  要:

退化失颜色的电子产品的寿命试验通常只能得到性能退化的数据,使用传统的方法很难对其可靠性进行评估。考虑到电子产品的退化类似于材料的疲劳,以金属化膜电容器为例,研究了BS模型在电子产品可靠性中的应用。从金属化膜电容器的失效过程推导出了该类型电容器的BS模型,经过计算比较,BS模型对脉冲电容器可靠性的评估要优于Weibull等其它模型。该实例证明BS模型能应用于电子产品的退化失效。

Electronic Product Reliability and Environmental Testing

分 类 号:

TN602 TB114.3

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