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AI-SI法分析X波段机载雷达天线罩

《现代雷达》2014年 第2期 | 史维光 王建 张云祥 罗天光 郑俊   电子科技大学电子工程学院 成都611731 四川电子军工集团研究院 成都611731
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摘 要:采用口径积分-表面积分(AI-SI)算法,对带罩机载阵列天线进行了分析.雷达罩的介质反射是引起天线方向图副瓣抬升的主要原因,在传统的AI-SI法分析天线罩过程中没有考虑天线金属阵面对天线罩介质反射的影响,因此,带来较大的计算误差.为了避免上述问题,文中在分析带罩天线过程中,采用了理想源阵列加反射板模型.天线罩总的透射场为阵列天线的一次透射场与反射板产生的二次透射场的叠加.为验证算法的正确性,将AI-SI算法计算结果与CST软件仿真结果进行了比较,两者吻合较好.
【分 类】【工业技术】 > 无线电电子学、电信技术 > 无线电设备、电信设备 > 天线 > 一般性问题
【关键词】 AI-SI算法 阵列天线 雷达罩
【出 处】 《现代雷达》2014年 第2期 67-70页 共4页
【收 录】 中文科技期刊数据库

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