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《微电子制造学报》
Journal of Microelectronic Manufacturing (JoMM)是由中国科学院微电子研究所、国科大微电子学院联合创办的国际全英文学术期刊,旨在发表集成电路制造领域中从基础研究阶段到工业大规模量产阶段的研究成果,内容包括但不限于Design、Process、Metrology & Yield Control、Packaging、Materials、Equipment 等方面。
发文量:25 被引量:0 H指数:0

H指数:又称为H-index或h因子(h-factor),是一种评价学术成就的新方法。h代表“高引用次数”(high citations),一名科研人员的h指数是指他至多有h篇论文分别被引用了至少h次。h指数能够比较准确地反映一个人的学术成就。一个人的h指数越高,则表明他的论文影响力越大。

影响因子:0 立即指数:0 被引半衰期:0 引用半衰期:0 期刊他引率:0 平均引文率:0
♦ 主管单位:中国科学院 ♦ 主办单位:中国科学院微电子研究所 ♦ 国内刊号: ♦ 国际刊号:2578-3769 ♦ 邮发代号: ♦ 发行周期:季刊
联系方式
主编:叶甜春
地址:北京市北土城西路3号中科院微电子研究所
邮编:100029
电话:010-82995779
Email:jomm@jommpublish.org
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