能量色散X-射线荧光光谱法测定钼精矿中钼、铁、铅、铜、二氧化硅、氧化钙
杨登峰 张晓蒲 田文辉
金堆城钼业集团有限公司,陕西渭南714000
摘 要:
采用硼酸镶边垫底，粉末压片法制样，用标准样品建立工作曲线，能量色散X-射线荧光光谱法同时测定了钼精矿中钼、铁、铅、铜、二氧化硅、氧化钙的含量。讨论了样品粒度、压片机压力对测定结果的影响；选择了合适的激发条件；采用经验系数法解决了元素间的相互干扰。测定结果与国家标准方法的测定值相符，相对标准偏差在0．28％～6．74％之间。可满足日常分析工作需要。 (共3页)
学科分类:
O657.34[数理科学和化学 > 化学 > 分析化学 > 仪器分析法（物理及物理化学分析法） > 光化学分析法（光谱分析法） > Ｘ射线荧光分析法]参考文献
相关期刊
关注本文的人:
看过本文的人还看过:
cqvip.com