机械损伤苹果CT值的试验研究
徐澍敏[1] 于勇[2] 王俊[2]
[1]金华职业技术学院机电工程学院,浙江省金华市321007 [2]浙江大学生物系统工程与食品科学学院,杭州市310029
摘 要:
以陕西产富士苹果为试验材料,利用X射线电子计算机扫描技术,测定了从不同高度下落苹果CT值的变化规律.试验结果表明,受机械损伤的苹果,在相同的扫描层上,苹果的CT值随贮藏时间增加而降低.且苹果受机械损伤程度越高,苹果的CT值越低.随着扫描层位置与撞击点距离的增加,未受损伤苹果的CT值略有下降;而受机械损伤苹果的CT值明显上升.且随着贮藏时间的变化,苹果CT值随受损伤程度的变化规律有所不同. (共4页)
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