U表面Al及Ti/Al双重镀层的电化学腐蚀行为

王庆富 鲜晓斌 刘清和 郎定木

表面物理与化学国家重点实验室,四川绵阳621907

摘  要:

采用动电位极化技术和扫描电镜(SEM)对U表面Al及Ti/Al双重镀层在含50μg/g Cl^-的KCl溶液中的电化学腐蚀行为进行研究。研究结果表明:U表面Al镀层和Ti/Al双重镀层的腐蚀为局部腐蚀,其腐蚀速度明显低于裸体U,镀层能够对U表面提供较好的保护;Al镀层相对U基体为阳极性镀层,能对U基体提供牺牲性保护;Ti镀层相对U基体为阴极性镀层,对U基体的保护是基于镀层对腐蚀介质的物理屏障作用。 (共5页)

相关文章:

主题相关 参考文献(10篇) 耦合文献(5篇) 

参考文献

更多文章搜索 
中国业务群个人门户,免费下载!
相关学者+更多
征稿启事
相关文章+更多
社区热帖+更多
天元数据 维普资讯 版权所有 Copyright © 2001-2008 cqvip.com Inc. All rights reserved.
渝ICP证 B2-20050021  违法和不良信息举报中心
建议使用:1024x768分辨率,16位以上颜色