ATR技术研究固体表面物理性质

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刘军民[1] 张俊华[2]

[1]南昌航空工业学院自动化学院,江西南昌330063 [2]江西省机械职工大学电子系,江西南昌330034

摘　　要:

一种利用光学中衰减全反射特性及拟合法对介质上蒸镀的金属薄膜物理性质进行研究的方法，并运用该方法对金属薄膜的厚度和复介电常数进行了精确测定，该方法是研究固体表面物理性质的一种有效的方法和技术。 (共4页)

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