Nafion修饰玻碳电极伏安法测定痕量铟

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摘　　要:

报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量铟的新方法.研究了Na-fion膜的有关特性和测定的条件,当富集时间为5 min时,峰电流与In（Ⅲ）浓度在1×10^-9～1×10^-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检出限为1.46×10^-10mol/L.该法用于实际水样中痕量铟的测定,平均回收率为98.4%. (共3页)