原:《微电子测试》,现:《电子测试:新电子》
- 主管单位:北京市科学技术研究院
- 主办单位:北京自动测试技术研究所
- 主 编:王明伟
- 刊 期:月刊
- 开 本:16开
- 创刊时间:1983-01-01
- 邮发代号:82-870
- 联系方式:点击查看
- 单 价:15.00
- 定 价:180.00
- 国内统一刊号:11-3927/TN
- 国际标准刊号:1000-8519
- 本刊MARC数据 本刊DC数据
- 国家图书馆馆藏 上海图书馆馆藏
|
电子测试
Electronic Test
-
期刊首页
引文评价
- 期刊简介:《电子测试》立足最新电子技术,提供产品测试解决方案,开发与质检机构、研究所和大专院校必备的参考资料。
- 2012 01 02
- 2011 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2010 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2009 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 更多

返回顶部
【期刊收录汇总】
- 2012 01 02
- 2011 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2010 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2009 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2008 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2007 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2006 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2005 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2004 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2003 01 02 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2002 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2001 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 2000 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12
- 1999 01 02 03 04 05 06 07 08
- 1998 01 03 04 05 06 07 08 09 10 11
- 1997 01 02 03 04
- 1996 01 02 03 04
- 1995 01 02 03 04
- 1994 01 02 03 04
- 1993 01 02 03 04
- 1992 01 02 03 04
- 1991 01 02 03 04
- 1990 01 02 03 04
- 1989 01 03 04
|