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电子电信 >> 稀有金属 >> 2006年30卷5期 >> 摘要

Φ300 mm红外锗单晶生长及性能测试

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冯德伸 苏小平 闵振东 尹士平

北京有色金属研究总院北京国晶辉红外光学科技有限公司,北京100088

稀有金属

《稀有金属》

2006年第30卷第5期

摘　　要:

采用直拉法成功拉制直径300 mm红外锗单晶, 讨论了热场温度梯度、拉晶工艺参数以及浮渣对拉晶的影响, 测量了单晶电阻率、红外透过率和断裂模量, 结果表明单晶满足红外光学系统的使用要求. (共3页)

关键词:

Φ300 mm红外锗单晶热场工艺参数浮渣性能测试

学科分类:

TN304[工业技术 > 无线电电子学、电信技术 > 半导体技术 > 一般性问题 > 材料]

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