高重复频率飞秒激光对面阵CCD的干扰和破坏

郭少锋[1] 程湘爱[1] 傅喜泉[2] 孙运强[1] 王飞[1] 李文煜[1] 周玉平[1] 陆启生[1] 文双春[2]

[1]国防科学技术大学光电科学与工程学院,长沙410073 [2]湖南大学计算机与通信学院,长沙410073

摘  要:

采用800nm,100fs的超短脉冲激光器对硅面阵CCD进行辐照实验,观测到饱和、串扰以及永久性损伤等多种可能造成成像器件失效的现象,特别是在激光能量较高时,发现CCD在成像时出现了黑白屏的现象。在飞秒激光器以1,10和1000Hz工作的条件下。分别测量了硅面阵CCD的饱和阈值、串扰阈值和破坏阈值。对破坏后的CCD器件进行了显微分析。在ikHz工作的条件下进行了视场外干扰实验。观察到串扰和全屏饱和的现象。 (共4页)

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