ICF系统全光路像差测量与校正方法
敖明武[1,2] 杨平[1,2] 杨泽平[1] 饶长辉[1] 姜文汉[1]
[1]中国科学院光电技术研究所,成都610209 [2]中国科学院研究生院,北京100080
摘 要:
介绍一种新的像差探测方法，该方法能够探测整个惯性约束聚变（ICF）光学系统的像差。驱动变形镜调制各种不同的像差加入ICF光学系统，从而导致远场的焦斑变化，此时将CCD放置到远场探测焦斑强度，同时采用哈特曼-夏克波前传感器在近场探测系统像差变化量。根据不同的系统像差变化量以及与其对应的远场强度，利用改进的相位反演算法可以计算出整个光学系统的像差。数值模拟表明，该方法可以测量并校正整个ICF系统的光学像差。 (共5页)
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