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活性氧在硒致HepG2 DNA损伤中的作用

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邹云锋 牛丕业 宫智勇 袁晶 邬堂春 陈学敏

华中科技大学同济医学院劳动卫生与环境卫生学系教育部环境与健康重点实验室,武汉430030

《卫生研究》

2006年第35卷第3期

摘　　要:

目的探讨亚硒酸钠（Na2SeO3）致HepG2细胞DNA损伤的作用机制。方法用0、2.5、5、10、20μmol/L的Na2SeO3、及分别加有还原性谷胱甘肽（GSH）和N-乙酰基-L-半胱氨酸（NAC）的Na2SeO3（10μmol/L）处理HepG2。用四甲基偶氮唑盐（MTT）比色法测定细胞活性；流式细胞仪测细胞内活性氧（ROS）的水平以及用彗星实验检测细胞的DNA损伤。结果5、10、20μmol/L Na2SeO3作用于HepG2 1h即引起ROS增加,12h后即导致细胞HepG2活性下降,24h后DNA损伤增强,与对照组相比,差异有统计学意义（P＜0.05）；抗氧化剂GSH和NAC有效抑制了ROS升高,并增强了细胞活性,减弱了细胞DNA损伤,与未加GSH和NAC的Na2SeO3组（10μmol/L）相比,差异有统计学意义（P＜0.05）。结论ROS的产生可能是亚硒酸钠造成HepG2 DNA损伤的重要原因。 (共3页)