少量树木年轮样品的X射线荧光光谱分析

摘　　要:

采用活体采样技术，对少量树木年轮样品的制备和测定方法进行了研究。使用X射线荧光光谱和透空测量方式，对树木年轮中Cl、Si、Na、Al、Mg、P、S、Ca、K、Ti、Mn、Fe、Zn、Cu、Pb、Rb、Sr、Ba等18种元素进行了分析测定，结果与其他方法相符，部分元素的精密度（RSD，n=10）为0．2％～15％。该法效果比较好，同时保证了少量树木年轮样品无损失、无化学组成变化．为后续的等离子体原子发射光谱和质谱联测创造了条件。