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物理 >> 物理学进展 >> 1999年19卷2期 >> 摘要

薄膜,多层膜和一维超点阵材料的X射线分析新进展

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杨传铮

物理学进展

《物理学进展》

1999年第19卷第2期

摘　　要:

本文评述了用Ｘ射线方法表征和研究这类薄膜材料的新进展。 (共34页)

关键词:

薄膜一维超点阵 X射线分析多层膜

学科分类:

O484[数理科学和化学 > 物理学 > 固体物理学 > 薄膜物理学]

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