高粱秆表面形貌与化学成分研究

陈桂华 向仕龙 唐忠荣

中南林业科技大学材料科学与工程学院,湖南长沙410004

摘  要:

借助扫描电子显微镜和X射线能谱仪(SEM-EDAX)对高粱秆表面形貌和化学成分进行研究,结果表明:高粱秆表面光滑,部分表面有块状物和棒状物覆盖,除H外,主要由C、O、S i、K四种元素组成,S i含量高达28%.高粱秆表面块状物和棒状物含碳量很高. (共3页)

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