CuxAlO2(0.92≤x≤1.0)陶瓷电输运性能
董国波 张铭 兰伟 朱满康 严辉
北京工业大学材料科学与工程学院,北京100022
摘 要:
使用高温固相烧结法制备不同化学剂量比的CuAlO2陶瓷,研究CuxAlO2(0.92≤x≤1.0)中Cu、Al摩尔比的相对变化对其结构和导电性能的影响。结果表明:CuxAl02(0.92≤x≤1.0)陶瓷片的结构和密度随着X值的增大,样品的结晶性逐渐变好,密度也逐渐增大,在X为0.98时,得到密度最大(5.02g/cm^3)且结晶良好的纯相CuAlO2:样品的光学带隙均约为3.44eV;随着X值的增加,室温电导率先增大然后减小,在X为0.98时得到最大电导率为8.03×10^-3S/cm;电导率随温度的升高而显著增大,且曲线在100—300K之间很好地符合Arrhenius关系,X为0.98时激活能最低,仅为0.085eV;在所研究的成分范围内,CuAlO2陶瓷的导电能力主要取决于陶瓷片的致密度。 (共5页)


















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