逻辑内建自测试高故障覆盖率设计
丁琳 虞美兰
江南计算技术研究所,江苏无锡214083
摘 要:
基于扫描的可测性设计技术需要大量空间存储测试矢量．其测试成本电将越来越高．逻辑内建自测试（Logic Built-In-Self-Test，LBIST）技术以其简单的硬件实现和较小的设计开销开始被业界广泛使用．但该技术也存在覆盖率较低的问题，主要原因在于，一是线性反馈移位寄存器（Linear Feedback Shift Register,LFSR）产生的伪随机矢量的空间相关性；二是电路结构上对伪随机矢量的抵抗性；针对这两种原因给出了一些改善的方法，从而达到提高故障覆盖率的目的，为实际设计提供借鉴。 (共3页)
学科分类:
TP274[工业技术 > 自动化技术、计算机技术 > 自动化技术及设备 > 自动化系统 > 数据处理、数据处理系统]参考文献
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