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美国
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IEEE Transactions on Materials for Electron Devices
发文量 27
被引量 3

The IEEE Transactions on Materials for Electron Devices (T-MAT) publishes contributed and invited articles of different formats in the broad field of materials for electron devices and their interconnects. The focus of T-MAT is on the applied aspects of electronic materials, as well as fundamentals directly relevant to individual and integrated device engineering and fabrication

  • 主办单位： IEEE
  • 出版周期： 年刊
  • 别名： T-MAT
热门主题：

Optoelectronic DevicesElectronic Equipment TestingResistive Switching BehaviorBipolar Resistive SwitchingElectronics PackagingSemiconductor DopingConduction MechanismElectron Transport LayerAluminum CompoundsCeramic ProductsResistive SwitchingChromium CompoundsDielectric MaterialsReliability AnalysisFracture MechanicsElectronic PropertiesSemiconductor DevicesOxygen VacanciesOrbital Splitting EnergyDrain Current

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封面
2026年--期
共：4篇

    • Kim, Dong JunLee, Sun WooLee, HojinKim, Taek-Soo

      1-7

    • Tang, ZhuohuaSong, XujinYang, WanwangLi, ShangzeSun, DijiangChen, RuiqiFeng, YulinKang, JinfengHuang, Peng

      8-14

    • Nitharwal, Ravindra KumarKumar, RavindraChatterjee, SubhajitSumanth, ArigeYadav, RenuMisra, AbhishekRao, M. S. RamachandraDixit, TejendraKrishnan, Sivarama

      15-22

    • Ghivela, Girish ChandraTadas, ShreevedRanjan, ShatakshiChaure, Pranav

      23-38
2026年--期

2026年--期

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