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电子测试 JST
发文量 27,200
被引量 59,991
影响因子(2025版) 0.407

《电子测试》创刊于1987年，见证了中国电子测试测量业的发展历程。如何为国际和国内市场提供有竞争力的产品、掌握先进的测试测量技术一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注，而为他们搭建沟通行业信息的平台，开创学术交流的广阔空间则正是《电子测试》创刊以来的核心使命。同时，本刊也希望成为社会各界有识之士进行学术交流平台，共同发展，携手共进！

  • 主管单位： 北京市科学技术研究院
  • 主办单位： 北京市科学技术研究院
  • 出版地区： 北京市
  • 出版周期： 双月刊
  • 别名： Electronic Test
  • 国内统一连续出版物号： CN 11-3927/TN
  • 国际标准连续出版物号： ISSN 1000-8519
  • 创刊时间： 1987年
  • 曾用名： 电子测试(新电子),微电子测试
热门主题：

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封面
2025年3期
共：15篇

    • 潘豪捷万江华

      1-6

    • 贺娜魏建波弓韬

      7-11

    • 李春节杨树文张湘宜高静怡李雪阳

      12-19

    • 赵子正郭亚楠刘公政丁毓恒孟凡桓

      20-24

    • 李子杰

      25-32

    • 张宇森刘元商殷大鹏

      33-36

    • 杨海华徐欣欢袁坤张胜

      37-42

    • 廖灏飞李伟田源冯豪乾邱明淞胡一锐

      43-53

    • 屈贵荣汪东李振涛

      54-60

    • 范胜文

      61-66

    • 靳力

      67-74

    • 朱吉利

      75-83

    • 张鹏飞宋志颖周强赵丽强马晓华周玥耿煜蔡强

      84-88

    • 安书董孙东旭王炳文

      89-95

    • F0002-F0002
2025年3期

2025年3期

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