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微机械加工反应离子刻蚀功率MOSFETCMOS电路串联电阻CCD技术电学性能参数CCD电荷耦合器件多端口存储器电容-电压曲线SRAM设计埋沟MOSFET肖特基势垒高度多型号并举CMOS比较器多项目晶圆嵌入式存储器永久性改变器件CCD界面错配位错
无数据
vol.6 (1998)
vol.5 (1997)
vol.4 (1996)
Verdonck, PatrickMansano, Ronaldo D.Maciel, Homero S.Salvadori, Maria Cecilia B.S.
Torres, Luiz C.MolinaBraga, Nelson
Ribas, R.P.Bennouri, N.Karam, J.M.Courtois, B.
Silva, Gabriel P.Filho, Eliseu M.C.Alves, Vladimir C.Ferreira, Victor M.Goulart
1998年1期
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