• 充值
  • 会员
  • 职称材料
搜期刊
刊名

文献信息

  • 任意字段
  • 主题词
  • 篇关摘
  • 篇名
  • 关键词
  • 摘要
  • 作者
  • 第一作者
  • 作者单位
  • 刊名
  • 中图分类号
  • 学科分类号
  • DOI
  • 基金
文献检索

投稿预审
LSI制造与测试
发文量 366
被引量 313

  • 主办单位： 上海光学仪器研究所
  • 出版地区： 上海市
  • 出版周期： 双月刊
  • 国内统一连续出版物号： CN 31-1459/TN
热门主题：

电子设备集成电路脉冲电子束光学存储半导体材料测试系统磁性材料静电防护光刻机微电子技术半导体器件微电子学企业管理单晶炉测试开发系统晶体生长设备科技成果产业化抗静电塑料电子生产设备电子工业

收录汇总 栏目浏览 期刊详情
收录汇总
出版文献
期刊详情
新发布(2025版)
分析评价
目录
封面
1997年4期
共：12篇

    • 董元昌

      1-3
    • 4-12

    • 邹熹

      13-16

    • 秦祥生

      17-18

    • 22-27

    • 28-29

    • 30-30

    • 周明孝

      33-35

    • 卢仰斌

      36-38

    • 曾润生

      39-41

    • 黄永亮

      42-47

    • 袁群毅叶日东

      68-68
1997年4期

1997年4期

客服咨询
投稿相关：023-63416211
撤稿相关：023-63012682
查重相关：023-63506028
重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-1 渝公网备 50019002500403
违法和不良信息举报中心   举报邮箱：jubao@cqvip.com   互联网算法推荐专项举报：sfjubao@cqvip.com    网络暴力专项举报: bljubao@cqvip.com
网络出版：（署）网出证（渝）字第014号    出版物经营许可证：新出发2018批字第006号