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美国
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Thin Films
发文量 45
被引量 76

  • 主办单位： Taylor & Francis
  • 国际标准连续出版物号： ISSN 0040-6082
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镍薄膜多孔阳极氧化铝外延生长阻力系数应变系数负电子铁氧体薄膜金属薄膜电阻率各向异性铁酸锰电阻率比值氧化结膜沉积银解释BASIC光学常量几何尺寸效应薄膜体系特高压高抗Neel畴壁银盐片

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