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Metrology and Measurement Systems 中科院4区 JCR:Q4 SCIE EI
发文量 1,119
被引量 12,203
影响因子(2025版) 0.990

Contributions are invited on all aspects of the research, development and applications of the measurement science and technology. The list of topics covered includes: theory and general principles of measurement; measurement of physical, chemical and biological quantities; medical measurements; sensors and transducers; measurement data acquisition; measurement signal transmission; processing and data analysis; measurement systems and embedded systems; design, manufacture and evaluation of instruments. The average publication cycle is 6 months.

  • 主办单位： POLSKA AKAD NAUK, POLISH ACAD SCIENCES
  • 出版地区： WARSZAWA
  • 出版周期： 季刊
  • 别名： METROL MEAS SYST;Metrol. Meas. Syst.;METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS
  • 国际标准连续出版物号/电子版： ISSN 0860-8229 / EISSN 2300-1941
  • 创刊时间： 1988年
  • 曾用名： Metrology and Measurement Systems(1988-2009)
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2007年3期
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2007年3期

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